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Dans la présente étude, nous avons déterminé l’effet de la résistance génétique, comparée au traitement chimique, sur la prévention des pertes en rendement du pois dues aux attaques par l’oïdium causé par Erysiphe polygoni DC ; Syn. E. pisi DC. Des lignées presque iso-géniques contenant le gène ER de résistance à l’oïdium ont été comparées à des lignées homologues sensibles. La maladie qui a apparu naturellement avait causé d’importants dégâts dans les parcelles non traitées des lignées sensibles. Par contre, les lignées résistantes ainsi que les lignées sensibles traitées par le fongicide Bayleton restaient très propres. Les lignées résistantes ont produit 11 à 44 plus que les lignées sensibles non-traitées. La résistance génétique a contrôlé la maladie aussi efficacement que le traitement chimique.

1999
AL AWAMIA (MA) ISSN: 0572-2721 , (1999), no 100 , p. 33-40
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